0.3 µm、ハードディスク、スピンドルモータなどの発塵検査や高濃度環境の測定用
光学系方式 | 側方散乱方式 |
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光源 | 半導体レーザ(波長780 nm、定格出力40 mW) |
粒径区分 | 0.3 μm以上、0.5 μm以上、1 μm以上、2 μm以上、5 μm以上の5段階 |
定格流量 | 0.5 L/min |
最大粒子個数濃度 | 100,000個/L(計数損失5%以内) |
電源 | AC100 V~240 V、50/60 Hz、約50 VA |
大きさ | 約135(H)×300(W)×300(D)mm(突起物を除く) |
重さ | 約6.3 kg |